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El servicio tiene por objetivo el asesoramiento en el análisis de datos eléctricos, de microscopía, radiografía, y/o técnicos de circuitos integrados que presenten fallos. Simulación de dispositivos y circuitos integrados en procesos CMOS o Bipolar-C...
El servicio tiene como objetivo realizar análisis de fallos de circuitos integrados fabricados en tecnologías CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) o dispositivos semiconductores, utilizando resultados de caracterizaciones eléctricas y toda ...
Mediciones de difracción de rayos X de polvos, películas delgadas, monolitos y piezas de diversas geometrías. Tubo de Cu, detector proporcional, monocromador, filtro de Ni (opcional), diversas rendijas y máscaras para delimitar el área iluminada. El ...
Se realiza la caracterización dimensional de microestructuras (largo, ancho, espesor, rugosidad) obtenidas por procesos de microfabricación mediante la utilización del equipamiento adecuado (perfilómetro óptico y perfilómetro mecánico). Como resultad...
Se realiza el ajuste de un modelo y/o medición para la determinación de espesores e índices de refracción por medio de elipsometría de longitud de onda variable.
Se realizan simulaciones computacionales de sistemas y materiales mediante técnicas avanzadas para caracterizar propiedades electrónicas, magnéticas, estructurales, dinámicas y térmicas, así como superficies, interfaces e interacciones moleculares. E...
Servicio destinado a empresas u organismos interesados en implementar soluciones que involucren materiales magnéticos o requieran la caracterización que se propone brindar haciendo uso de un VSM. El entregable es un informe técnico con las propiedade...
El servicio consiste en el análisis y caracterización de materiales mediante espectroscopías de fotoelectrones de rayos X (XPS), de luz ultravioleta (UPS) y electrones Auger (AES), técnicas de superficie que permiten determinar composición elemental ...
Servicio especializado en el análisis de superficie a escala nanométrica mediante microscopía de fuerza atómica. Permite detectar diferencias mínimas de topografía y propiedades físicas asociadas utilizando distintos modos de medición. Dirigido a emp...