El servicio tiene como objetivo realizar análisis de fallos de circuitos integrados fabricados en tecnologías CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) o dispositivos semiconductores, utilizando resultados de caracterizaciones eléctricas y toda ...

El servicio tiene por objetivo el asesoramiento en el análisis de datos eléctricos, de microscopía, radiografía, y/o técnicos de circuitos integrados que presenten fallos. Simulación de dispositivos y circuitos integrados en procesos CMOS o Bipolar-C...

Se realiza la caracterización dimensional de microestructuras (largo, ancho, espesor, rugosidad) obtenidas por procesos de microfabricación mediante la utilización del equipamiento adecuado (perfilómetro óptico y perfilómetro mecánico). Como resultad...

Mediciones de difracción de rayos X de polvos, películas delgadas, monolitos y piezas de diversas geometrías. Tubo de Cu, detector proporcional, monocromador, filtro de Ni (opcional), diversas rendijas y máscaras para delimitar el área iluminada. El ...

Se realiza el ajuste de un modelo y/o medición para la determinación de espesores e índices de refracción por medio de elipsometría de longitud de onda variable.

Se realizan simulaciones computacionales de sistemas y materiales mediante técnicas avanzadas para caracterizar propiedades electrónicas, magnéticas, estructurales, dinámicas y térmicas, así como superficies, interfaces e interacciones moleculares. E...

Servicio destinado a empresas u organismos interesados en implementar soluciones que involucren materiales magnéticos o requieran la caracterización que se propone brindar haciendo uso de un VSM. El entregable es un informe técnico con las propiedade...

El servicio consiste en el análisis y caracterización de materiales mediante espectroscopías de fotoelectrones de rayos X (XPS), de luz ultravioleta (UPS) y electrones Auger (AES), técnicas de superficie que permiten determinar composición elemental ...