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Determinación selectiva del estado químico, electrónico y estructural de elementos químicos utilizando XANES
Determinación selectiva del estado químico, electrónico y estructural de elementos químicos utilizando XANES
Análisis químico superficial (hasta aproximadamente 5 nm) de muestras sólidas utilizando XPS
Análisis químico superficial (hasta aproximadamente 5 nm) de muestras sólidas utilizando XPS
Análisis estructural del entorno cercano al elemento absorbente mediante el análisis de la estructura fina del espectro de absorción de rayos X en la región extendida (EXAFS).
Análisis estructural del entorno cercano al elemento absorbente mediante el análisis de la estructura fina del espectro de absorción de rayos X en la región extendida (EXAFS).
Obtención de los diagramas de dispersión de rayos X requeridos por el solicitante (en las condiciones experimentales pautadas). Experimentos de dispersión de rayos X a bajo y alto ángulo en incidencia normal o rasante.
Obtención de los diagramas de dispersión y reflexión de rayos X requeridos por el solicitante. Experimentos en incidencia rasante.
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